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2011

11-25

一、圓頂寬峰1、樣品量大起出了色譜柱容量；2、汽化溫度低；3、色譜柱沒按要求安裝；4、檢測器工作狀態不對，如載氣太小、沒開補充氣；5、數據處理裝置的判峰參數（半峰寬）設置偏大。二、平（未到滿量程）：1、樣品量大，放大器量程高，衰減大，信號輸出飽和；2、檢測器已工作在飽和區；3、數據處理輸入信號極性接錯，或零點失調。

2011

11-24

氣相色譜程序升溫時基流增加原因分析

氣相色譜程序升溫時基流增加（漂移大），噪聲增加原因分析如下：1、色譜柱需重新老化或失效；2、新換載氣純度欠佳；3、過濾器失效；4、樣品前處理不當，如：雜質干擾物太多；5、靈敏度太高。6、數據處理裝置的判峰參數設置不合理。相關產品信息：氣相色譜分析儀,變壓器油色譜分析儀,天然氣分析儀,氣相色譜儀價格

2011

11-22

氣相色譜分析之出峰后基線下移

出峰后基線下移的主要原因分析如下：1、樣品量大，特別是溶劑改變了工作狀態；2、FID被污染狀況發生改變，或氣流比發生變化；3、系統出現漏氣，或出現堵塞；4、色譜柱被污染；5、樣品處理不當，如：樣品中有些物質和固定相發生作用。

2011

11-21

氣相色譜出現拖尾峰的原因分析

1、氣相色譜柱安裝不合格，樣品不能以“塞子”形進入色譜柱，柱與檢測器安裝的死體積太大；2、樣品未能注射入柱頭中(柱頭進樣方式)；3、汽化管沒有安裝好或破損，樣品只能脫尾進入色譜柱；4、化室的溫度低或偏高；5、載氣流量偏低；6、進樣量大；7、載氣系統(如注射墊處)有漏氣；8、進樣器(汽化室)，被樣品中高沸點雜質或注射墊殘渣污染；9、色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點污染物作用；10、補充氣未開或偏低；11、色譜柱溫度偏低或失效；12、甲烷化Ni催化劑失效；13、進樣技術差(如速...

2011

11-18

氣相色譜出現“N“ 或 “W”峰及舌頭峰的原因

一、"N"或“W”峰出現的原因1、TCD操作，用N2作載氣由于熱傳導率非線性引起；2、FID操作時，樣品溶劑電離效率低(如CS2)，或氣流比欠佳時；3、ECD操作時，由于檢測器被污染，溶劑峰或待測組分含量較高，或脈沖電源有毛病。二、舌頭峰(前延峰)出現的原因1、汽化溫度偏低；2、載氣流量小：3、進樣量大，汽化時間長；4、汽化室被污染，樣品有吸附效應；5、樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染；6、進樣技術差(揮發性組分的進樣速度太慢)；7、峰前出現了“鬼”峰。