臺式掃描電子顯微鏡SEM
A：Z大放大倍率10萬倍
B：圖像景深高，立體感強，分辨率高
C：載物臺五軸控制系統（傾斜功能），XY（40MM），R（360），TILT（0-45），Z（0-35MM）
D：配備四級可變光闌（30,50,100,200μm），通過調整電子束大小可提供高分辨率圖像
E：自動對焦，自動調整對比度和亮度，調整dian子書尺寸，消像散
F：樣品艙大可進行多種多樣樣品分

產品型號：SNE-4500

更新時間：2025-03-04

廠商性質：生產廠家

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產品介紹

SNE-4500G臺式掃描電子顯微鏡SEM

主機：
A. 技術參數
1. 分辨率：5nm (30kV, SE Image)
2. 放大倍率：30x~100,000x (有效放大倍率60,000x)
3. 加速電壓 :
5kV to 30kV (5Kv/10Kv/15kV/20kV/30Kv-5 step)
4. 圖像：
二次電子圖像-(SEI)-Secondary Electron Image
5. Observation mode: Standard Mode
6. 電子槍系統:
燈絲類型：預對中鎢燈絲
偏壓系統：自動偏壓方式
電子槍校正：手動方式
7. 透鏡構成
i. 聚光鏡 : 2段式磁線圈透鏡
ii. 物鏡 : 1段式磁線圈透鏡
8. 探測器類型
E-T Detector
9. 載物臺系統：5軸操控
- X, Y-axis : 40mm / R-axis : 360°
- Z : 0~35mm / Tilt-axis : 0~45°
10. Image shift:X, Y Image Shift (100?)
11. 樣品zui大尺寸 :
80mm in diameter, 35mm in height